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介电损耗和电导率关系?

2024-06-04 10:23:44 编辑:zane 浏览量:640

介电损耗和电导率关系?

介电常数的虚部与介质的电导率有关系,电导率越大损耗虚部也越大,

ε=ε‘+iσ/ω

ε‘为实介电系数

σ为介质电导率

ω为电磁波的角频率

经典的描述为:介电常数是复数量,实部代表电容率,虚部代表损耗,虚部和电导有关,虚部越大,电导率越大,绝缘性能越差.但都是绝缘体它不导电的,是介电材料.导电就等于击穿了.

技术参数:

1.Q值测量

a.Q值测量范围:2~1023。

b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。

c.标称误差

频率范围(100kHz~10MHz): 频率范围(10MHz~160MHz):

固有误差:≤5%±满度值的2% 固有误差:≤6%±满度值的2%

工作误差:≤7%±满度值的2% 工作误差:≤8%±满度值的2%

2.电感测量范围:4.5nH~7.9mH

3.电容测量:1~205

主电容调节范围:18~220pF

准确度:150pF以下±1.5pF; 150pF以上±1%

注:大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明

4. 信号源频率覆盖范围

频率范围CH1:0.1~0.999999MHz, CH2: 1~9.99999MHz,

CH3:10~99.9999MHz, CH1 :100~160MHz,

5.Q合格指示预置功能: 预置范围:5~1000。

6.B-测试仪正常工作条件

a. 环境温度:0℃~+40℃;

b.相对湿度:<80%;

c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

7.其他

a.消耗功率:约25W;

b.净重:约7kg;

c. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。

高频/音频介电常数测试仪GDAT-A测试注意事项

a.本仪器应水平安放;

b.如果你需要较精确地测量,请接通电源后,预热30分钟;

c.调节主调电容或主调电容数码开关时,当接近谐振点时请缓调;

d.被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短,足够粗,并应接触良好、可靠,以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差;

e.被测件不要直接搁在面板顶部,离顶部一公分以上,必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫;

f.手不得靠近试件,以免人体感应影响造成测量误差,有屏蔽的试件,屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。

影响介电性能的因素

下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。

1频率

因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的 。r和 tans几乎是恒定的,且被用作工程电介质材料,然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。

电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生,重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的.

2温度

损耗指数在一个频率下可以出现一个大值,这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的,这取决于在测量温度下的介质损耗指数大值位置。

3湿度

极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加,其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是必不可少的.

注:湿度的显著影响常常发生在 1MHz以下及微波频率范围内

4电场强度

存在界面极化时,自由离子的数目随电场强度增大而增加,其损耗指数大值的大小和位置也随此而变。

在较高的频率下,只要电介质中不出现局部放电,电容率和介质损耗因数与电场强度无关

测量方法的选择:

高频/音频介电常数测试仪GDAT-A测量电容率和介质损耗因数的方法可分成两种:零点指示法和谐振法。

1 零点指示法适用于频率不超过50 MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法;也就是在接人试样和不接试样两种状态下,调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器电桥(也就是互感藕合比例臂电桥)和并联 T型网络。变压器电桥的优点:采用保护电极不需任何外加附件或过多操作,就可采用保护电极;它没有其他网络的缺点。

2 谐振法适用于10 kHz一几百MHz的频率范围内的测量。该方法为替代法测量,常用的是变电抗法。但该方法不适合采用保护电极。

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